4155B Agilent Semiconductor Parameter Analyzer
Az Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer négy beépített forrás/monitor egységet (SMU), két feszültségforrás egységet (VSU) és két feszültségfigyelő egységet (VMU) kínál. A HP 4155B a legalkalmasabb az alapvető félvezető alkalmazásokhoz nem kelvin csatlakozásaival, 10 V-os felbontásával és 100 mA/100 Ohm mérési tartományával.
- A termék bemutatása
Áttekintés és funkciók
Termék áttekintés
Az Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer négy beépített forrás/monitor egységet (SMU), két feszültségforrás egységet (VSU) és két feszültségfigyelő egységet (VMU) kínál. A HP 4155B a legalkalmasabb az alapvető félvezető alkalmazásokhoz nem kelvin csatlakozásaival, 10 V-os felbontásával és 100 mA/100 Ohm mérési tartományával.
Az Agilent Semiconductor Parameter Analyzer egyéb jellemzői és specifikációi a következők:
● Nagy felbontás/pontosság és széles tartomány. I: 1 fA - 1 A (20 fA eltolási pontosság), V: 1 µV - 200 V
● Teljesen automatizált IV sweep mérések dc vagy impulzus móddal
● Akár 6 SMU-ra bővíthető
● Szinkronizált stressz/mérés funkció
● Két nagyfeszültségű impulzusgenerátor egység (±40 V)
● Időtartomány mérés: 60 µs – változó intervallumok, akár 10 001 pont
● Könnyen használható: a görbe nyomkövetőhöz hasonló gomb-seprés
● Automatikus elemzési funkciók
● Automatizálás: beépített HP Instrument BASIC, trigger I/O képességek
Népszerű tags: 4155b agilent félvezető paraméterelemző, Kína 4155b agilent félvezető paraméterelemző gyártók, félvezető paraméterzaj, félvezető paraméter nemlinearitás, félvezető paraméter hiszterézis
